Conveners
第二分会场(RBS6)
- 勇飞 梁 (四川大学物理学院)
SiPM是放大倍数较大的器件,且放大倍数对所加电压,温度及其敏感,自身也有很大不一致性。多通道应用中,差别甚至可以达到1-2个数量级,给后端软件修正带来很大困难。本研究探讨如何在已有通用放大读出芯片(如CPRE、VA等,带有前放、成形,峰保等结构)的基础上,设计放置于其前端的多通道增益调整和电压调整芯片,从而方便的利用已有芯片进行SiPM的能量读出。其每个通道带有可调DAC与耦合电容,可以分别进行探测器与电子学增益的调整,偏置电压调节范围可达5V。同时,也探讨此时SiPM的偏置方式和后端通用芯片的适当改进措施。由此芯片构建的读出系统将用于掺Li闪烁玻璃+SiPM的4096路一对一读出二维平面中子探测器中。
单片HVCMOS探测器通过施加高压电场,在深N阱收集极和高阻衬底之间形成耗尽层作为灵敏区,具有电荷收集速度快、抗辐照能力强等优点。前端读出电路集成到深N阱中,在满足信号处理功能的同时,需要优化功耗、面积并提高性能表现。设计采用55nm HVCMOS 三阱工艺,像素内原型电路主要实现放大、甄别功能,已于23年10月提交流片。目前已经收到芯片,测试工作正在进行中。报告将介绍几种不同的电路设计,分析比较仿真结果,并展示初步的测试结果。
碳化硅(SiC)探测器具有耐高温、抗辐照、快响应、低噪声的优势,但是与之匹配的传统前端电子学对温度敏感,二者之间的长线缆会导致噪声增大,限制了SiC探测器在高温下的性能发挥。本研究提出采用SiC结型场效应管(JFET)作为电荷灵敏前置放大器的输入级晶体管,提高前置放大器的耐高温和低噪声性能。本研究使用了半导体器件仿真研究了SiC-JFET在高温下的输出电学特性和噪声水平,开展了实验制备和性能测试分析。仿真结果表明,相比于Si-JFET,SiC-JFET具有更好的高温稳定性和较宽的工作温度范围。在25~250℃温度范围内,SiC-JFET的跨导变化小于31%。在成形时间0.1~10...